Washington, Estados Unidos.- Seis ciudadanos chinos, tres de ellos profesores universitarios, fueron acusados de espionaje económico y robo de secretos comerciales en beneficio de universidades y empresas controladas por China, anunció el martes el Departamento de Justicia estadounidense.

El esquema implicó el robo de la tecnología denominada FBAR, que permite a los teléfonos móviles y otros aparatos filtrar señales de radio y mejorar su desempeño, explicó.

“Como demuestra el caso de hoy, la tecnología sensible desarrollada por compañías estadounidenses en Silicon Valley y a lo largo de California sigue siendo vulnerable a los esfuerzos coordinados y complejos de gobiernos extranjeros para robar esa tecnología”, indicó la fiscal federal Melinda Haag.

Los seis son acusados de trabajar para robar secretos comerciales de dos empresas de semiconductores, Avago Technologies, con sede en California, y Skyworks Solutions, con sede en Massachussetts, en un plan que presuntamente se remonta a 2006.

Según los investigadores, el esquema implicó crear una sociedad ficticia denominada Novana en las Islas Caimán, liderada por los académicos chinos y la Universidad de Tianjin, con respaldo del gobierno chino, para fabricar productos tecnológicos rivales que serían presentados por una compañía china bautizada ROFS Microsystems.

Entre los acusados está el profesor de la Universidad Tianjin, Hao Zhang, de 36 años, ex empleado de Skyworks, arrestado al ingresar a Estados Unidos el pasado sábado, indicó el Departamento de Justicia.

Los otros acusados son Wei Pang, de 35 años, exempleado de Avago y también profesor de la universidad Tianjin; Jinping Chen, de 41, profesor de la universidad Tianjin y miembro del directorio de ROFS; Huisui Zhang, 34, de nacionalidad china y que estudió con Pang y Hao Zhang en la Universidad de Carolina del Sur; Chong Zhou, 26, estudiante graduado de Tianjin; y Zhao Gang, 39, administrador general de ROFS Microsystems.

Son acusados de espionaje económico, robo de secretos comerciales y conspiración.

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